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CASCADE
名稱:Cascade Microtech,Inc.
型号:
品牌:CASCADE
産地:美(měi)國
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發布時(shí)間:2023-07-04
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品牌詳情相關型号

品牌簡述:Cascade Microtech,Inc.于2016年被FormFactor收購。FormFactor,Inc.(納斯達克股票代碼:FORM)是一家在整個IC生命周期(從(cóng)表征、建模、可靠性和(hé)設計(jì)開(kāi)發)提供基本測試和(hé)測量技術的領先供應商。-bug,進行資格認證和(hé)生産測試。半導體公司依靠FormFactor的産品和(hé)服務,通過優化設備性能(néng)和(hé)提高(gāo)産量知(zhī)識來(lái)提高(gāo)盈利能(néng)力。該公司通過其位于亞洲、歐洲和(hé)北美(měi)的設施網絡爲客戶提供服務。深圳華聯歐公司長期穩定供應CASCADE,美(měi)國CASCADE探針台,CASCADE可靠性測試台,下(xià)面就一起來(lái)看(kàn)看(kàn)吧。深圳華聯歐自(zì)成立以來(lái),一直緻力于爲客戶提供德國及歐美(měi)地區(qū)原産的各類工(gōng)控機電設備、各類儀器儀表零配件,确保全新原裝正品。全新原裝美(měi)國CASCADE全系列産品,型号齊全,質量保證,售後完善。歡迎在線咨詢,誠信并重視(shì)每一位客戶,提供一對(duì)一專業服務~​

一、美(měi)國CASCADE公司簡介
Cascade Microtech公司是包含集成電路(IC),芯片,電路闆,模塊,MEMS,3D TSV,LED器件等在外(wài)部的一流半導體器件的高(gāo)精度電氣測量和(hé)測試領域中的全球領導者。針台和(hé)分析用(yòng)探針廣爲應用(yòng)作(zuò)繁雜(zá),高(gāo)速公路器件的高(gāo)精度電氣測量的研發,意在保證質量及可靠性,并削減研究時(shí)間和(hé)器件組裝工(gōng)藝的成本。Cascade最一流的量産用(yòng)作(zuò)測試産品獨有的探針卡,測試插座和(hé)ATE接觸器,可減少高(gāo)速公路及高(gāo)密度半導體芯片的組裝成本。FormFactor誕生于1993年,當時(shí)IBM前研究員Igor Khandros開(kāi)始在紐約的一個小(xiǎo)型實驗室中爲半導體行業開(kāi)發産品。很(hěn)快(kuài),Khandros和(hé)他(tā)的小(xiǎo)團隊發現(xiàn)了(le)引線鍵合MicroSpring,這(zhè)是三種半導體應用(yòng)的基礎技術:插座、封裝和(hé)探針卡。從(cóng)這(zhè)些(xiē)不起眼的開(kāi)始,他(tā)們與行業一起成長,不斷應用(yòng)實用(yòng)創新來(lái)幫助半導體制造商跟上(shàng)摩爾定律的步伐。如今,他(tā)們是全球半導體行業先進SoC和(hé)内存探針卡的頂級供應商。

二、美(měi)國CASCADE部分産品介紹
1、美(měi)國CASCADE探針台
①系統可配備FormFactor革命性的eVue數字成像系統或高(gāo)性能(néng)SlimVue顯微鏡
②eVue的革命性設計(jì)實現(xiàn)了(le)光學分辨率、數字變焦和(hé)實時(shí)動态視(shì)頻之間的完美(měi)平衡
③該系統能(néng)夠比以往更快(kuài)、更智能(néng)地導航、觀察和(hé)測量設備
④SlimVue™顯微鏡可減輕光子集成電路(PIC)上(shàng)小(xiǎo)焊盤探測所需的高(gāo)放(fàng)大(dà)倍率光學器件的機械幹擾
⑤該系統使用(yòng)戶能(néng)夠比以往更快(kuài)、更智能(néng)地導航、觀察和(hé)測量設備
⑥Spectrum軟件允許用(yòng)戶測量z位移

2、美(měi)國CASCADE可靠性測試台
①提供kHz至170 GHz和(hé)kHz至220 GHz版本
②低(dī)插入損耗
③低(dī)接觸電阻
④探頭上(shàng)集成雙工(gōng)器,用(yòng)于集成同軸電纜和(hé)波導頻段
⑤探頭間距窄至50μm
⑥光刻定義的探針尖端

3、美(měi)國CASCADE工(gōng)程用(yòng)探針
①獨特的空(kōng)氣共面尖端設計(jì),可選擇铍銅(BeCu)或鎢尖端材料
②DC至110 GHz型号提供單線和(hé)雙線版本
③超低(dī)損耗(-L)版本具有低(dī)插入和(hé)回波損耗
④優異的串擾特性
⑤寬工(gōng)作(zuò)溫度-65℃至+200℃
⑥提供多種螺距,從(cóng)50到(dào)1250µm
⑦單獨支持的聯系人
⑧适用(yòng)于小(xiǎo)焊盤的減少接觸(RC)探針尖端
⑨铍銅尖端可在金(jīn)墊上(shàng)提供堅固、可重複的接觸

4、美(měi)國CASCADE探頭Infinity探頭–同軸
①光刻薄膜結構
②優異的串擾特性
③非氧化鎳合金(jīn)尖端
④創新的力量輸送機制
⑤提供40GHz、50GHz、67GHz、110GHz和(hé)145GHz連接器
⑥GSG、SG、GS、GSSGG、GSSG、SGS配置
⑦50至250µm節距(可根據要求提供其他(tā)節距)
⑧提供高(gāo)電流版本(2 A)
⑨卓越的場限制減少了(le)與附近設備和(hé)傳輸模式的不必要的耦合
⑩卓越的測量精度和(hé)重複性
⑪小(xiǎo)擦洗可最大(dà)程度地減少對(duì)鋁墊的損壞
⑫典型接觸電阻在Al上(shàng)<0.05Ω,在Au上(shàng)<0.02Ω
⑬通過将焊盤幾何尺寸縮小(xiǎo)至25 x 35µm(最佳情況),節省寶貴的晶圓空(kōng)間并減少焊盤寄生效應

5、美(měi)國CASCADE探針卡觸摸矩陣
①不斷波動的價格和(hé)需求通常要求閃存制造商尋找新的運營效率。
②FormFactor先進的晶圓測試解決方案可提高(gāo)産量并降低(dī)每個芯片的總體測試成本,從(cóng)而幫助制造商應對(duì)這(zhè)一壓力。
③FormFactor TouchMatrix™晶圓探針解決方案專門(mén)設計(jì)用(yòng)于爲200毫米和(hé)300毫米NAND和(hé)NOR閃存晶圓測試提供最低(dī)的每個芯片總體測試成本。
④它提供大(dà)規模并行性,并根據制造商測試設備和(hé)産品設計(jì)的變化進行調整,以優化探針平面度和(hé)速度設置。這(zhè)些(xiē)功能(néng)共同提高(gāo)了(le)生産力并降低(dī)了(le)總擁有成本。
CASCADE,美(měi)國CASCADE探針台,CASCADE可靠性測試台
三、美(měi)國CASCADE主要産品和(hé)型号
1、美(měi)國CASCADE主要産品
①美(měi)國CASCADE探針台
②美(měi)國CASCADE可靠性測試台
③美(měi)國CASCADE工(gōng)程用(yòng)探針
④美(měi)國CASCADE量産用(yòng)探針

2、美(měi)國CASCADE産品型号
①美(měi)國CASCADE Infinity探頭–同軸
②美(měi)國CASCADE探頭ACP探頭–同軸
③美(měi)國CASCADE T波波導帶狀探頭
④美(měi)國CASCADE T-Wave寬帶(雙頻)探頭

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